EXADDON生产“全球首个”用于半导体测试的3D打印探针 

2024-01-25 10:00
资源库 / 1月25日消息,瑞士Exaddon公司开发了一种新型3D打印微探针,能在低于20µm的细间距下进行测试,为半导体芯片提供更精准的检测。
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这项技术不仅降低了测试复杂性和成本,还通过提高芯片有效面积来增加产量并降低成本。
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